Создано необходимое программное обеспечение для предварительного анализа и математической обработки больших массивов нейтронных дифракционных данных, получаемых при изучении переходных процессов в кристаллах. Оно включает программы визуализации 2D массивов информации, получаемых на нейтронных TOF-дифрактометрах с разверткой спектров по времени пролета, и программный пакет, позволяющий провести анализ изменений атомной структуры образца при переходном процессе в автоматическом режиме. Результатом анализа являются зависимости от времени (или непосредственно от величины внешнего воздействия) структурных характеристик имеющихся или возникающих при фазовых переходах кристаллографических фаз. При необходимости с помощью программного пакета можно вести анализ данных, измеряемых с разверткой по углу рассеяния на дифрактометрах с монохроматическим пучком нейтронов.
Ключевые слова:
дифракция нейтронов, реальное время.